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NI與領(lǐng)先的ATE供應(yīng)商泰瑞達(dá)合作實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)分析

NI（已正式成為艾默生一員，現(xiàn)作為艾默生旗下新的測(cè)試與測(cè)量業(yè)務(wù)集團(tuán)運(yùn)營(yíng)）近日宣布了一項(xiàng)新計(jì)劃，利用NI Global Operations（GO，前身為Optimal+）平臺(tái)在邊緣側(cè)提供實(shí)時(shí)的半導(dǎo)體分析解決方案。這種更新水平的基礎(chǔ)設(shè)施和控制能力為平臺(tái)用戶(hù)、NI自身、乃至第三方人員開(kāi)發(fā)更先進(jìn)和更定制化的應(yīng)用程序打開(kāi)了大門(mén)。此次發(fā)布的亮點(diǎn)是NI GO生態(tài)系統(tǒng)中的新支持層以及開(kāi)始與領(lǐng)先ATE供應(yīng)商泰瑞達(dá)（Teradyne）的合作。OptimalPlus GO對(duì)半導(dǎo)體測(cè)試操作的質(zhì)量、良率、吞吐量和功能需求的不斷提
關(guān)鍵字： NI Global Operations ATE 泰瑞達(dá) Teradyne

如何為ATE應(yīng)用創(chuàng)建具有拉電流和灌電流功能的雙輸出電壓軌

本文詳細(xì)介紹一種創(chuàng)建雙輸出電壓軌的方法，該方法能為設(shè)備電源(DPS)提供正負(fù)電壓軌，并且只需要一個(gè)雙向電源。傳統(tǒng)的設(shè)備電源供電方法使用兩個(gè)雙向（拉電流和灌電流能力）電源，一個(gè)為正電壓軌供電，一個(gè)為負(fù)電壓軌供電。這種配置不但笨重，且成本高昂。簡(jiǎn)介DPS一般與自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)和其他測(cè)量設(shè)備搭配使用。ATE是一種電腦控制機(jī)械設(shè)備，自動(dòng)驅(qū)動(dòng)傳統(tǒng)的手動(dòng)電子測(cè)試設(shè)備來(lái)評(píng)估功能、質(zhì)量、性能和應(yīng)力測(cè)試。這些ATE需要配套的DPS提供四象限電源運(yùn)行能力。DPS是一種四象限電源，可以提供正電壓或負(fù)電壓，同時(shí)具備拉電流和
關(guān)鍵字： ADI ATE

英國(guó)Pickering公司公布三管齊下方案應(yīng)對(duì)產(chǎn)品淘汰問(wèn)題

2023年01月12日，英國(guó)克拉克頓——英國(guó)Pickering公司作為生產(chǎn)用于電子測(cè)試及驗(yàn)證領(lǐng)域的信號(hào)開(kāi)關(guān)與仿真解決方案的主要廠商，于今日公布了一套正式方案，用于保護(hù)客戶(hù)免受測(cè)試工程師在維護(hù)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）時(shí)面臨的最昂貴的挑戰(zhàn)之一 —— 產(chǎn)品淘汰?！皩?duì)于具有長(zhǎng)生命周期的關(guān)鍵任務(wù)產(chǎn)品的部件，在制造和設(shè)計(jì)了初始測(cè)試系統(tǒng)的數(shù)十年后，仍需要進(jìn)行測(cè)試?！盤(pán)ickering公司的 CEO Keith Moore說(shuō)，“當(dāng)儀器供應(yīng)商停止使用這些測(cè)試系統(tǒng)中的部件時(shí) —— 這通常會(huì)讓從事航空航天/國(guó)防、鐵路運(yùn)輸或電力的
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PI發(fā)布新型SCALE-iFlex產(chǎn)品以應(yīng)對(duì)功率變換新挑戰(zhàn)

　　2019年SCALE-iFlex解決了模塊化功率變換的挑戰(zhàn)，配備主控制器的門(mén)級(jí)驅(qū)動(dòng)產(chǎn)品。2021年P(guān)ower Integrations新增SCALE-iFlex產(chǎn)品系列，分別為SCALE-iFlex LT和SCALE-iFlex Single，以支持要求更為嚴(yán)格的環(huán)境。SCALE-iFlex LT——在風(fēng)電應(yīng)用中具有高度的靈活性　　從新增裝機(jī)容量來(lái)看，2019年全球風(fēng)電新增裝機(jī)容量為60.4GW，較2001年增長(zhǎng)超過(guò)8倍，年均復(fù)合增長(zhǎng)率為13.18%。風(fēng)電作為現(xiàn)階段發(fā)展最快的可再生能源之一，在全球電力
關(guān)鍵字： PI 雙通道門(mén)極驅(qū)動(dòng)器 SCALE-iFlex LT SCALE-iFlex Single

Power Integrations推出適用于“新型雙通道”模塊的SCALE-iFlex Single即插即用型門(mén)極驅(qū)動(dòng)器

SCALE-2技術(shù)可優(yōu)化外形尺寸，提高耐壓在3300V以?xún)?nèi)的功率逆變器和變換器的效率、性能和可靠性
關(guān)鍵字： PI 雙通道門(mén)機(jī)驅(qū)動(dòng)器 SCALE-iFlex?Single IGBT

Power Integrations的新型SCALE-iFlex LT即插即用型門(mén)極驅(qū)動(dòng)器可將EconoDUAL IGBT模塊的性能提高20%

新的門(mén)驅(qū)動(dòng)器節(jié)省了六分之一的模塊；大大降低了系統(tǒng)的復(fù)雜性
關(guān)鍵字： PI 雙通道門(mén)機(jī)驅(qū)動(dòng)器 SCALE-iFlex?LT

Wi-Fi芯片基于IFLEX量產(chǎn)測(cè)試開(kāi)發(fā)淺析

　　張桂玉，任希慶(安普德（天津）科技股份有限公司，天津?300384)　　摘?要：本文測(cè)試的芯片是一款針對(duì)物聯(lián)網(wǎng)市場(chǎng)開(kāi)發(fā)的高性能2.4 GHz/5 GHz雙頻Wi-Fi射頻芯片，支持802.11 a/b/g/n，Wi-Fi Direct、Soft AP以及STA/AP 模式共存。具有高速性、穩(wěn)定性和傳輸距離遠(yuǎn)等特點(diǎn)，可以高度匹配音視頻流媒體傳輸。廣泛應(yīng)用于無(wú)線(xiàn)流媒體音視頻播放、虛擬現(xiàn)實(shí)、無(wú)人機(jī)、運(yùn)動(dòng)相機(jī)、車(chē)聯(lián)網(wǎng)、工業(yè)控制、智能家居等領(lǐng)域。本文將對(duì)雙頻Wi-Fi芯片基于IntegraFlex平臺(tái)量產(chǎn)測(cè)試開(kāi)
關(guān)鍵字： 202006 2.4G/5G 雙頻Wi-Fi芯片 ATE IFLEX 量產(chǎn)測(cè)試硬件和軟件

芯片測(cè)試機(jī)面臨新挑戰(zhàn)，泰瑞達(dá)系列舉措捍衛(wèi)品牌

集成電路自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE，測(cè)試機(jī)）是檢測(cè)芯片功能和性能的專(zhuān)用設(shè)備，據(jù)SEMI預(yù)測(cè)，2019年中國(guó)測(cè)試機(jī)占據(jù)后道檢測(cè)設(shè)備的62.8%的份額（如圖1）。數(shù)據(jù)來(lái)源：SEMI，賽迪顧問(wèn)整理圖1 2019年中國(guó)集成電路測(cè)試設(shè)備產(chǎn)品結(jié)構(gòu)ATE測(cè)試的趨勢(shì)是什么？為此，電子產(chǎn)品世界記者訪(fǎng)問(wèn)了泰瑞達(dá)業(yè)務(wù)戰(zhàn)略總監(jiān)翟朝艷（Natalian Der）女士，并深入了解了泰瑞達(dá)的產(chǎn)品特色與在華策略。1 芯片測(cè)試的新挑戰(zhàn)為了捍衛(wèi)電子產(chǎn)品的品牌，半導(dǎo)體公司可謂重任在肩：需要在芯片上整合多種功能，有高性能指標(biāo)，很短的上市時(shí)間，合理的成
關(guān)鍵字：測(cè)試機(jī) ATE 芯片

利用ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）測(cè)試電源負(fù)載的數(shù)字可編程精密電阻

圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）中用作微處理器驅(qū)動(dòng)的電源負(fù)載。IC1 是一個(gè) 8 位電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它
關(guān)鍵字： ATE 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備測(cè)試電源

羅德與施瓦茨成為首家通過(guò)RCS 5.3一致性用例認(rèn)證的測(cè)試儀表廠商

　　羅德與施瓦茨公司認(rèn)證了基于IMS 的融合通信5.3(RCS5.3) 235工作組一致性測(cè)試用例中的24條用例，進(jìn)一步展示了羅德與施瓦茨公司在4G 和IMS測(cè)試測(cè)量領(lǐng)域的領(lǐng)先地位，同時(shí)也是業(yè)界唯一的一個(gè)通過(guò)該認(rèn)證的儀表廠家?！　?018年3月21日，慕尼黑——這些用例是在新加坡召開(kāi)的 GCF一致性和交互性工作組會(huì)議上通過(guò)的。融合通信(RCS)基于IP多媒體子系統(tǒng)可以支持不同的應(yīng)用包括即時(shí)消息，在線(xiàn)提示以及在視頻通話(huà)中共享多媒體內(nèi)容等。由于不斷增長(zhǎng)的手機(jī)用戶(hù)和移動(dòng)網(wǎng)
關(guān)鍵字： R&S CMW-ATE

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中的示波器需求

自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)系統(tǒng)中的示波器需求-在測(cè)試電子器件時(shí)，很難不提到示波器所具有的通用性。為了對(duì)電子電路進(jìn)行驗(yàn)證，工程師需要能夠查看和測(cè)量其設(shè)計(jì)中的信號(hào)。自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）通常不提供大量可視化故障診斷，這對(duì)于必須安裝、校準(zhǔn)并對(duì)系統(tǒng)進(jìn)行故障診斷的用戶(hù)來(lái)說(shuō)是一大挑戰(zhàn)。這些操作需要可視化工具，示波器便能提供這種工具。
關(guān)鍵字： ate 是德科技 pxie 示波器

基于PXI平臺(tái)的下一代半導(dǎo)體ATE解決方案

　　半導(dǎo)體測(cè)試行業(yè)現(xiàn)狀　　電子行業(yè)正處于不斷的壓力下必須降低其制造成本。上市時(shí)間給半導(dǎo)體制造商很大的壓力，在新產(chǎn)品投入市場(chǎng)后的很短時(shí)間內(nèi)，利潤(rùn)是最高的，隨后，由于競(jìng)爭(zhēng)者開(kāi)發(fā)了類(lèi)似底價(jià)產(chǎn)品，利潤(rùn)水平開(kāi)始下降。開(kāi)發(fā)一個(gè)有效的節(jié)省費(fèi)用的測(cè)試程序往往是阻礙新產(chǎn)品投入批量生產(chǎn)的瓶頸?！　?duì)于半導(dǎo)體供應(yīng)商來(lái)說(shuō)，其中測(cè)試成本一直被視為沒(méi)有“增值”的成本。如圖1所示，ATE資本成本占IC平均銷(xiāo)售價(jià)格(ASP)的百分比逐漸變小?-?從2001年的5%上升到2010年的約1%。然而，整體器件的ASP也在減
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挑戰(zhàn)傳統(tǒng)ATE，測(cè)試廠商發(fā)力半導(dǎo)體測(cè)試

2017年春天開(kāi)始，筆者有幸每個(gè)月接觸一家測(cè)試巨頭的高管，談?wù)?017中國(guó)市場(chǎng)的熱點(diǎn)時(shí)，半導(dǎo)體測(cè)試是被提及的最多的一個(gè)，也是最讓很多人意外的一個(gè)。
關(guān)鍵字： ATE PXI NI 半導(dǎo)體測(cè)試

NI將半導(dǎo)體ATE數(shù)字功能引入PXI平臺(tái)

NI(美國(guó)國(guó)家儀器公司，National Instruments，簡(jiǎn)稱(chēng)NI) 作為致力于幫助工程師和科學(xué)家應(yīng)對(duì)全球最嚴(yán)峻的工程挑戰(zhàn)的平臺(tái)系統(tǒng)供應(yīng)商，今日宣布推出了NI PXle-6570基于圖形向量的數(shù)字通道板卡和NI數(shù)字圖形向量編輯器。
關(guān)鍵字： NI ATE PXI平臺(tái)

PXI加入戰(zhàn)局，ATE全面模塊化時(shí)代到來(lái)

半導(dǎo)體測(cè)試ATE是整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)中最為精密的一個(gè)環(huán)節(jié)，也是最具市場(chǎng)價(jià)值的測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域之一，相比于幾萬(wàn)塊錢(qián)規(guī)模的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，動(dòng)輒百萬(wàn)的半導(dǎo)體測(cè)試ATE從技術(shù)上就限制了很多玩家的進(jìn)入。當(dāng)然，龐大的系統(tǒng)有自己固有的問(wèn)題，就是設(shè)備的使用成本過(guò)于昂貴，基于這樣的需求，NI的PXI技術(shù)尋找了市場(chǎng)的切入點(diǎn)技術(shù)找到了市場(chǎng)的切入點(diǎn)。在快速變遷的市場(chǎng)環(huán)境下，設(shè)備性能不斷挑戰(zhàn)著ATE系統(tǒng)功能的極限，測(cè)試設(shè)備的淘汰速度加快，測(cè)試成本也隨之增加，因而需要與日益嚴(yán)苛的性能需求保持同步。成本效益是NI吸引半導(dǎo)體測(cè)試客戶(hù)的最大亮
關(guān)鍵字： PXI ATE NI 模塊化半導(dǎo)體測(cè)試

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數(shù)字校準(zhǔn)使得自動(dòng)化測(cè)試提供方便;校準(zhǔn)常見(jiàn)問(wèn)題

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